Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. Д. Синдо, Т. Оикава
137 руб
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов. В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии. Настольная книга материаловеда.
Вес
365
Ширина упаковки
145
Высота упаковки
210
Глубина упаковки
20
Оригинальное название
Analytical Electron Microscopy for Materials Science
» Каталог
» Книги » Нехудожественная литература » Научная и техническая литература » Техника. Технические науки » Технические науки в целом