В книге специалистов из США и Великобритании отражено современное состояние техники зондовых анализов в автоионной микроскопии. Рассмотрены физика процессов в сильных электрических полях, принципы и специфика работы автоионного микроскопа и атомного зонда. Описаны конструкция атомных зондов различных типов, их возможности в анализе химического состава сложных сплавов и сталей, определении распределения примесей, природы инородных фаз. Значительное внимание уделено интерпретации экспериментальных данных, калибровке атомных зондов, причинам возможных погрешностей и методам их учета. Для широкого круга специалистов, работающих в различных областях физики твердого тела, материаловедения, эмиссионной электроники, а также для студентов и аспирантов.
Вес
290
Ширина упаковки
210
Высота упаковки
10
Глубина упаковки
140
Оригинальное название
Atom Probe Microanalysis
Автор
Джордж Смит,Майкл Миллер,Р. Бахтизин,Александр Суворов,Евгений Шешин