Книга содержит семь аналитических обзоров ведущих ученых Европы и США. Материал дает представление о важных изменениях в физике сегнетоэлектриков за последние 20 лет. Рассматриваются концептуальные достижения теории сегнетоэлектричества, новые технологии получения тонких эпитаксиальных пленок оксидных сегнетоэлектриков и сверхрешеток и методы их исследования, а также результаты: теоретических и экспериментальных исследований размерных эффектов в тонких и сверхтонких сегнетоэлектрических пленках, а также сегнетоэлектрических наночастицах и нанотрубках; изучения доменных стенок в тонких сегнетоэлектрических пленках; исследований мультиферроиков. Полученные данные позволяют применять сегнетоэлектрики в электронике и технике, в том числе для создания сегнетоэлектрических энергонезависимых запоминающих устройств (FRAM) и диэлектрических слоев в интегральных схемах.Для научных работников, аспирантов и студентов.
» Каталог
» Книги » Нехудожественная литература » Научная и техническая литература » Техника. Технические науки » Радиоэлектроника, радиотехника, связь » Микроэлектроника, интегральные схемы